電子電工產(chǎn)品低溫試驗

                       電子電工產(chǎn)品低溫試驗

一、工作空間是高氣流速度或是低氣流速度的確定：

在測量和試驗的標準環(huán)境條件下,以及氣流速度＜0.2m/s，按照待試驗的低溫條件下的規(guī)定給試驗樣品通電或加電氣負載。

當試驗樣品的溫度達到穩(wěn)定，應使用合適的監(jiān)測裝置測量試驗樣品上或其周圍若干個有代表性的位置的溫度。之后，每一個位置的溫升應予以記錄。

開啟試驗箱的通風裝置使空氣循環(huán)，當溫度達到穩(wěn)定時，重新測量上述位置處的溫度。如果此次測得的溫度與上次無空氣流動時測得的溫度相差超過5K（或相關規(guī)范規(guī)定的其他值），應在檢測報告中記錄這些溫度值，并且認為該試驗箱具有高氣流速度循環(huán)。然后給試驗樣品斷電，并去掉任何負載條件。

二、非散熱試驗樣品的試驗：

在溫度漸變試驗Ab中，試驗樣品放入處于試驗室溫度的試驗箱中，然后慢慢降低試驗箱中溫度，防止由于溫度改變而對試驗樣品產(chǎn)生有害作用。建議采用高氣流速度循環(huán)，因為這樣可以減少達到溫度穩(wěn)定所需要的時間。

三、散熱試驗樣品的試驗：

試驗Ad和試驗Ac描述了散熱試驗樣品在低氣流速度循環(huán)下的試驗程序。這允許試驗樣品的局部發(fā)熱點在其內(nèi)部擴展的情況，類似于安裝后的產(chǎn)品在應用中發(fā)生的情況。

四、溫度監(jiān)控：

    應使用溫度傳感器來測量試驗箱里的空氣溫度，溫度傳感器的位置離試驗樣品的距離確保其受熱擴散的影響可忽略不計。應適當注意以避免熱輻射影響這些測量。