高溫老化房的測(cè)試原理

 

    電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí)，因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題有兩類，*類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；第二類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過(guò)程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活(暴露)。顯然，對(duì)每只元器件測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來(lái)加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高性能的穩(wěn)定期。電子產(chǎn)品的失效曲。

 

    高溫老化房是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備。主要適用用于電子、LED、照明、PCB板、電子元器件、汽車零部件的檢測(cè)設(shè)備，為提高產(chǎn)品質(zhì)量保駕護(hù)航。高溫老化房主體結(jié)構(gòu)一般采用保溫板（雙面彩色鋼板，中間加保溫材料：聚氨酯或者保溫棉）在現(xiàn)場(chǎng)拼裝而成，房間尺寸均根據(jù)客戶要求設(shè)計(jì)。結(jié)構(gòu)牢固，同時(shí)安裝方便快捷。在房間墻上，根據(jù)需要可設(shè)置觀察窗，方便在室外觀察到室內(nèi)產(chǎn)品測(cè)試情況。在墻上還配有不同電壓的插座，以滿足產(chǎn)品老化測(cè)試時(shí)的需要。

 

    上器高溫老化房具有簡(jiǎn)單的操作性能和可靠的設(shè)備性能，便捷操作的計(jì)測(cè)裝置，溫度控制器，采用先進(jìn)的中文液晶顯示畫面觸摸屏，可進(jìn)行各種復(fù)雜的程序設(shè)定，程序設(shè)定采用對(duì)話方式，操作簡(jiǎn)單、迅速。可為用戶批量檢驗(yàn)、檢測(cè)電子電工元器件、零配件或大型部件等提供一個(gè)模擬環(huán)境，為測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性（可重復(fù)）提供*條件。